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當前位置:首頁 > 產品中心 > 薄膜制備全套設備 > 磁控濺射鍍膜設備 > 膜厚監測儀--EQ-TM106
簡要描述:EQ-TM106膜厚監測儀是采用石英晶體振蕩原理,結合先進的頻率測量技術,進行膜厚的在線監測。主要應用于MBE、OLED熱蒸發、磁控濺射等設備的薄膜制備過程中,對膜層厚度及鍍膜速率進行實時監測。根據實時速率可以輸出PWM模擬量,作為膜厚傳感器使用,與調節儀和蒸發電源配合實現蒸發源的閉環速率控制。
產品分類
薄膜制備全套設備
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詳細介紹
技術參數
主要特點
EQ-TM106-1監測組件
EQ-TM106-2顯示儀
EQ-TM106-3探頭
標準配件
1
1個
2
1臺
3
質保期
一年質保期,終身維護
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